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1、美國TEKTRONIX參數分析儀4200A-SCS原裝供應
使用4200A-SCS參數分析儀（參數測試儀）加快各類材料、半導體器件和先進工藝的開發，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業內性能領先電學特性參數分析儀，提供同步電流電壓曲線測試(I-V曲線測試)、電容-電壓曲線測試(C-V曲線測試)和超快脈沖I-V曲線測量。推進大膽發現從未如此容易。4200A-SCS參數分析儀從設置到運行檢定測試的時間減少高達50％，從而實現無與倫比的測量和分析能力。此外，嵌入式測量專業知識提供無與倫比的測試指導，并讓您對最終結果充滿信息。
2、美國TEKTRONIX參數分析儀4200A-SCS特性
使用吉時利最新的電容-電壓單元(CVU)4215-CVU測量一位數飛法。通過將1 V AC電源集成到吉時利行業領先的CVU架構中，4215-CVU可在1 kHz至10 MHz的頻率下進行低噪聲電容測量。4200A-CVIV多通道切換模塊自動在I-V和C-V測量之間切換，無需重新布線或抬起探頭端部。與競爭產品不同，四通道4200A-CVIV顯示器提供本地可視查看，可快速完成測試設置，并在出現意想不到的結果時輕松排除故障。
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3、美國TEKTRONIX參數分析儀4200A-SCS特點
①用于DC IV、CV和脈沖IV測量類型的高級測量硬件
②立即使用Clarius軟件中所含的數百種用戶可修改應用程序測試開始測試
③自動實時參數提取、數據繪圖、分析函數
④同類產品中首款能夠驅動1 V AC電源電壓的CV表
⑤1 kHz頻率，分辨率從1 kHz到10 MHz
⑥測量電容、電導和導納
⑦使用4200A-CVIV多路開關最多可測量四個通道
⑧無需重新布線即可將C-V測量移動到任何設備終端
⑨用戶可配置低電流功能
⑩不必將儀器送回工廠即可增加SMU
?多達9個SMU通道
?針對長電纜或大卡盤進行了優化
?“手動”探測器模式測試探測器功能
?假探測器模式無需移除命令即可實現調試
4、美國TEKTRONIX參數分析儀4200A-SCS功能
4200A-SCS是一種可以量身定制、全面集成的參數分析儀，可以同步查看電流電壓(I-V)、電容電壓(C-V)和超快速脈沖式I-V特性。作為高性能的參數分析儀，4200A-SCS加快了半導體、材料和工藝開發速度。4200A-SCS ClariusTM基于GUI的軟件提供了清楚的、不折不扣的測量和分析功能。憑借嵌入式測量專業知識和數百項隨時可以投入使用的應用測試，Clarius Software可以更深入地挖掘研究過程，快速而又滿懷信心。4200A-SCS參數分析儀可以根據不同用戶需求進行靈活配置，不管是現在還是未來，都可以隨時對系統進行升級。通過4200A-SCS參數分析儀，通往發現之路現在變得異常簡便。
5、美國TEKTRONIX參數分析儀4200A-SCS產品I-V源測量單元(SMU)特點
①±210 V/100 mA或±210 V/1 A模塊
②100 fA測量分辨率
③選配前端放大器提供了10 aA測量分辨率
④10 mHz-10 Hz超低頻率電容測量
⑤100μF負載電容
⑥四象限操作
⑦2線或4線連接
6、美國TEKTRONIX參數分析儀4200A-SCS產品C-V多頻率電容單元(CVU)特點
①AC阻抗測量(C-V,C-f,C-t)
②1 kHz-10 MHz頻率范圍
③±30 V(60 V差分)內置DC偏置源，可以擴展到±210 V(420 V差分)
④選配CVIV多通道開關，在I-V測量和C-V測量之間簡便切換脈沖式I-V超快速脈沖測量單元(PMU)
⑤兩個獨立的或同步的高速脈沖I-V源和測量通道
⑥200 MSa/s，5 ns采樣率
⑦±40 V(80 V p-p)，±800 mA
⑧瞬態波形捕獲模式
⑨任意波形發生器Segment ARB®模式，支持多電平脈沖波形，10 ns可編程分辨率
7、美國TEKTRONIX參數分析儀4200A-SCS產品高壓脈沖發生器單元(PGU)特點
①兩個高速脈沖電壓源通道
②±40 V(80 V p-p)，±800 mA
③任意波形發生器Segment ARB®模式，支持多電平脈沖波形，10 ns可編程分辨率I-V/C-V多通道開關模塊(CVIV)
④在I-V測量和C-V測量之間簡便切換，無需重新布線或抬起探針
⑤把C-V測量移動到任意端子，無需重新布線或抬起探針遠程前端放大器/開關模塊(RPM)
⑥在I-V測量、C-V測量和超快速脈沖I-V測量之間自動切換
⑦把4225-PMU的電流靈敏度擴展到數十皮安
⑧降低電纜電容效應
8、美國TEKTRONIX參數分析儀4200A-SCS產品說明
使用4201-SMU和4211-SMU模塊，您可以在高電容系統中實現穩定的低電流測量。4200A-SCS有四種型號的源測量單位(SMU)可供選擇，可通過定制滿足您所有的I-V測量需求。通過提供現場可安裝單元和可選的預放大器模塊，Keithley可確保您獲得最準確的低電流測量，而停機時間很少甚至沒有。4200A-SCS參數分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器，包括MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336低溫控制器。
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